1.
Кофнов, О.В., Лебедев, Е.Л., Михайленко, А.В.: Компьютерное моделирование дифракции миллиметровых электромагнитных волн для выявления внутренних дефектов изделий, выполненных по аддитивной технологии. Труды СПИИРАН 1(56), 76-94 (2018). doi:10.15622/sp.56.4