Паршуткин, А. В., Д. В. Левин, С. А. Зайцев, и А. В. Егин. Применение структурных помех для защиты информации от утечки по каналу побочных электромагнитных излучений. Труды СПИИРАН, т. 3, вып. 58, June 2018, сс. 160-81, DOI:10.15622/sp.58.7.