1. Кофнов О.В., Лебедев Е.Л., Михайленко А.В. Компьютерное моделирование дифракции миллиметровых электромагнитных волн для выявления внутренних дефектов изделий, выполненных по аддитивной технологии // Труды СПИИРАН. 2018. № 56 (1). C. 76-94.