ПАРШУТКИН, А. В.; ЛЕВИН, Д. В.; ЗАЙЦЕВ, С. А.; ЕГИН, А. В. Применение структурных помех для защиты информации от утечки по каналу побочных электромагнитных излучений. Труды СПИИРАН, v. 3, n. 58, p. 160-181, 1 jun. 2018.