КОФНОВ, О. В.; ЛЕБЕДЕВ, Е. Л.; МИХАЙЛЕНКО, А. В. Компьютерное моделирование дифракции миллиметровых электромагнитных волн для выявления внутренних дефектов изделий, выполненных по аддитивной технологии. Труды СПИИРАН, v. 1, n. 56, p. 76-94, 2 fev. 2018.