[1]
Григоров, М.С. и Басов, О.О. 2015. Методика мультиэнергетической рентгенографии изделий микроэлектроники с неоднородной структурой. Труды СПИИРАН. 3, 40 (июн. 2015), 19-32. DOI:https://doi.org/10.15622/sp.40.2.